Loading...

Slovakia – Scanning electron microscopes – Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li) — Ústav materiálového výskumu Slovenskej akadémie vied, verejná výskumná inštitúcia — Slovakia Defense Contract